NECは3月22日、世界最高精度の3次元顔認証システムを開発したと発表した。顔の向きや照明が大きく変化しても、96.5％の精度で本人を照合できるという。

　目や鼻、口、頬など、顔の各パーツを重要性に応じて重み付けした「重み付けマップ」と、姿勢や照明の変化を効率的に記述できる「GIB記述子」を併用、照合アルゴリズムも新たに開発して精度を従来の24倍に高めた。顔の向きを高速に計算する「IOF法」により、照合速度も従来の約3倍にアップしたという。

　顔認証で一般的に使われている2次元の顔画像では、顔の姿勢や照明条件によって照合精度が大きく低下するが、同技術ならば逆光や横顔でも高精度で照合できるとしている。

　同技術は、3月24日までドイツ・ハノーバーで開かれている「CeBIT2004」でデモ展示しているほか、電子情報通信学会総合大会（東京工業大学）で3月25日に技術発表する。

[2004/03/22 21:04 更新]

http://www.itmedia.co.jp/news/articles/0403/22/news051.html

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